Técnicas Cristalográficas

Código: PGEM6113
Curso: Mestrado em Engenharia Mecânica
Créditos: 3
Carga horária: 45
Ementa: Propriedade de raios-X, elétrons e nêutrons. Cristalografia. Difração. Rede recíproca. Métodos de Difração. Padrões de difração.
Teoria do Espalhamento. Análise de fases. Textura e tensões residuais. Difração sob incidência rasante, SAXS, XANES, EXAFS,
SANS, MEV-EBDS.
1 Revisão de propriedades dos raios-X, elétrons e neutrons, cristalografia e princípios básicos da difração.
Radiação eletromagnética. Produção de raios-X. Espectro contínuo e característico. Filtros. Redes, estruturas e sistemas
cristalinos. Direções, planos e famílias. Defeitos. Projeção estereográfica. Difração, Lei de Bragg e equações de Laue. Rede
recíprocra. Método de Laue. Método do pó. Câmara de Debye-Scherrer.
2 Espalhamento de raios-X, elétrons e nêutrons.
Espalhamento por um elétron. Espalhamento por um átomo. Espalhamento por uma célula-unitária. Fator de estrutura. Fatores
de multiplicidade e de Lorentz. Fatores de absorção e temperatura. Cálculo de intensidade de picos de difração. Análise
qualitativa e quantitativa de fases. Método de Hanawalt. Espalhamento de elétrons em MEV e EBSD, padrões de Kikuchi.
Princípios de Microtomografia de nêutrons e raios X de alta energia.
3 Difração em cristais reais:
Cristais reais. Tamanho de um monocristal. Função interferência. Tensão e mosaicidade.
4 Textura Cristalográfica:
Introdução. Tensões residuais. Figura de polos inversa e direta. Função de distribuição de orientação cristalina. As distribuições
de desorientação de contorno vistas pelo KAM no EBSD.
4 Espalhamento de elétrons e raios X:
Microscópio de Transmissão (princípios). Refletividade de Fresnel. Formalismo de Parrat. Influência da rugosidade. Refletividade
de um substrato. Princípios do espalhamento difuso. Espalhamento coerente e incoerente em fase de neutrons.